测一次点源 MTF

选取一个点源,检查实际取样范围,读取 MTF50/10。

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开始前

使用原始 2D CT 模体切片;目标为单个微珠或垂直细丝截面,不在 MPR 上测量。

完成后

选取一个点源,检查实际取样范围,读取 MTF50/10。

1. 找到入口

打开目标切片,在右侧选择 分析 → MTF。如果工具在「更多」中,先展开更多。先放大观察,确认要测的是一个独立亮点。

2. 框住目标与背景

拖出一个矩形,完整包含目标并留出周围背景。宽、高都至少包含 8 个像素,不必画成正方形。不要同时框住两个亮点或把目标裁断。

需要精确输入时打开 精确设置 ROI,填写中心和宽高,再点 应用并计算。中心 X/Y 是从 0 开始的原图像素坐标,宽高单位为 mm。

3. 检查实际取样范围

松开鼠标后等待计算。开启 显示实际取样范围:青色实线是积分外界,浅色虚线是背景环带内外界,十字标记实际点源。

你画的矩形负责定位目标,不等于实际积分范围。默认积分比例 110% 相对于自适应基准,不是所画矩形的 110%;衰减外缘可与背景环带部分重叠。

4. 读取与核对结果

查看 X/Y 曲线及各方向 MTF50、MTF10,确认显示单位是 lp/mm 还是 lp/cm。MTF50/10 是归一化响应降到 50%/10% 时的空间频率。

打开 计算详情 查看计算方式、积分与背景范围、算法版本和时间。不同方法、采样条件的结果不能只比较一个数字。软件不自动判定合格。

5. 无结果时如何处理

先读错误原因,再检查目标是否完整、是否混入其他亮点、是否有足够背景以及 ROI 是否越界。调整范围后松开重新计算,不要把上一条结果当作当前测量。旧记录没有取样边界时,点击 重新计算 才能显示。

6. 保存与计算说明

保存工作区可保留 ROI、曲线、计算参数和结果,原始影像仍需保留。重新打开不会自动改算旧结果。

默认采用二维背景校正与边缘加权 FFT;高斯等效另有适用条件。没有有限目标尺寸修正或跨层平均。详细算法参考原「MTF 与 FWHM 分析」章。